Анализ покрытий

Покрытия практически не содержат растворитель, а пленкообразующее вещество обычно структурировано (то есть нерастворимо). Эти факторы требуют специальной подготовки образца и специальных аналитических методов. Отделение фракций пленкообразующего вещества и пигмента для дальнейшего изучения возможно только в том случае, если пленкообразующее вещество не структурировано, а высушено физическим способом. Пленка покрытия пропитывается подходящим растворителем, после растворения пленкообразующего вещества пигмент центрифугируется и отделяется. Имеется достаточное количество подготовленного для анализа материала; выделенные компоненты можно анализировать методами. Перечисленные выше методы анализа невозможно применять к структурированным пленкообразующим веществам (например, двухкомпонентным системам, покрытиям горячей сушки). Фракции пленкообразующего вещества и пигмента в покровном слое проще всего анализировать методом ИК-спектроскопии. Для этих целей пригодны различные методы измерений, которые требуют разной степени препаративной обработки образца. Наиболее значимыми методами являются: измерение на кристаллах КВг, приготовленных из фрагмента пленки, измерения поверхности покрытия методом многократно нарушенного целого внутреннего отражения и измерение на поперечном сечении покрытия методом Фурье-спектроскопии.

Другие методы определения структуры сшитого пленкообразующего вещества включают использование пиролизной газовой хроматографии или щелочного гидролиза с последующим анализом разделенных веществ методом газовой хроматографии. В многослойных покрытиях применение этих методов может быть затруднено, поскольку составы разных слоев могут быть различными. Среди упомянутых методов вторичная ионная масс-спектроскопия является методом, подтвердившим свою пригодность для анализа кратеров и других дефектов, вызванных поверхностно-активными веществами.

При исследовании покрытий часто появляются вопросы, связанные с дефектами покрытий. Дефекты могут обнаруживаться на локальных участках (вкрапления, кратеры), которые ухудшают внешний вид покрытия. Также могут возникать дефекты, когда уменьшается адгезия к подложке или между слоями. Дефекты исследуются при помощи оптической микроскопии, Фурье-микроспектроскопии, рентгеновскими методами, современными методами анализа поверхности, такими как вторичная ионная масс-спектроскопия, масс-анализ лазерным микрозондом и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.